Экранирование. 
Среды с плоско–параллельными поверхностями раздела

Форма кривой КС и величина к зависит от мощности пласта h. При интерпретации каротажных диаграмм большую роль играет отношение длины зонда к мощности пласта L/h. Форма кривой КС и величина к для пластов hL существенно различаются.

Подошвенный градиент-зонд (Рис. 25а) При Lh кривая КС образует минимум в кровле пласта — минимальное значение ниже к покрывающих пласт пород. Против пласта кривая КС возрастает от кровли к подошве. Ширина пика КС меньше h на величину L. Участок длиной L в кровле пласта со сравнительно заниженным сопротивлением наземной зоной экранирования (ЗЭ). К подошве пласта кривая КС достигает максимума, превышающего п и далее спадает до к подстилающих пород.

При L=h зона экранирования занимает основную часть кривой КС против пласта. Только в подошве наблюдается узкий пик с кп.

При Lh против пласта наблюдается несколько смещенный к подошве симметричный max с кп. Значения к — занижены.

Для кровельных градиент — зондов картина зеркально симметричная.

Потенциал — зонд (б).

При Lh пласт на кривой КС отмечается максимумом, симметричным относительно середине пласта. Кровлю пласта смещают на L/2 выше, а подошву пласта — на L/2 ниже участков кривой КС с наибольшей крутизной.

При Lh пласт отмечается небольшим min. Величина к против вмещающих пород на L/2 выше и ниже границ пласта.

Два пласта высокого сопротивления, расположенные недалеко друг от друга, оказывают взаимное влияние на форму кривой КС, полученных градиент — зондом.

Если соседний экранирующий пласт высокого сопротивления расположены со стороны парных электродов ГЗ, то он не оказывает существенного влияния на величину к против исследуемого пласта.

Если расстояние между серединами пластов меньше L, то к — занижены против пласта (рис. а-в).

Если расстояние между серединами пластов больше L, то к против исследуемого пласта завышено (г).

Занижающее экранирование вызвано тем, что при положении электродов M и N против исследуемого пласта электрод, А оказывается под экранирующим пластом, который действуя как малопроводящий экран, препятствует распространению тока в сторону электродов M, N.

Завышающее экранирование вызвано тем, что при положении электродов M, N против исследуемого пласта электрод, А находится ниже экранирующего пласта, и ток от него распространяется преимущественно вниз.

При исследовании двух пластов высокого сопротивления кровельным градиент — зондом ход кривых КС меняется на обратный.

Экранирование является существенным ограничением и снимает эффективность БКЗ при изучении пластов малой и средней мощности с наличием экранирующих пластов высокого сопротивления.

При измерении потенциал — зондом соседние пласты не оказывают существенного влияния на показания против пласта высокого сопротивления.

Для градиент — зонда — кривые КС сильно искажены, что ограничивает их применение по сравнению с ГЗ.